Séminaire Ampère / TCEE : Hassan Hamad et Joao Oliveira
Résumé :
Hassan Hamad : Caractérisation et fiabilité des MOSFET SiC, impact de la diode interne
Joao Oliveira : Fiabilité des MOSFET SiC, impact de la commutation
Lieux : salles de réunion des différents sites, et visio
Séminaire Ampère / TCEE : Hassan Hamad et Joao Oliveira
Résumé :
Hassan Hamad : Caractérisation et fiabilité des MOSFET SiC, impact de la diode interne
Joao Oliveira : Fiabilité des MOSFET SiC, impact de la commutation
Lieux : salles de réunion des différents sites, et visio
Conception et commande d’un contrôleur de flux de puissance pour les réseaux électriques en basse tension continue / Design and control of a power flow controller for low voltage direct current electric grids.
Conception et commande d’un contrôleur de flux de puissance pour les réseaux électriques en basse tension continue / Design and control of a power flow controller for low voltage direct current electric grids.