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Accueil > Thèses et HDR > Thèses en 2017

08/06/2017 - Jorge L0AYZA RAMIREZ

publié le , mis à jour le

Agenda

  • Jeudi 8 juin 2017 10:00-11:30 -

    Thèse Jorge Loayza

    Résumé : Étude et caractérisation des agresseurs électriques non calibrés appliqués aux circuits integrés microéléctroniques et optimisation de la conception des réseaux de protection associés (voir plus ...).

    Lieu : INSA amphi AE1 - Bâtiment Gustave Ferrié, INSA de Lyon


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Jorge LOAYZA RAMIREZ soutient sa thèse le 08/06/2017 - 10h00 - Amphithéâtre AE1, Bâtiment Gustave Ferrié - INSA Lyon

Titre :
Étude et caractérisation des agresseurs électriques non calibrés appliqués aux circuits integrés microéléctroniques et optimisation de la conception des réseaux de protection associés

Jury :

  • Directeur de thèse : Bruno ALLARD
  • Rapporteurs : Marise BAFLEUR ; Salvatore BAGLIO
  • Examinateurs  : Nathalie LABAT ; Luong Viet PHUNG ; Philippe GALY

Résumé :
Cette thèse de doctorat s’inscrit dans la thématique de la fiabilité des circuits intégrés dans l’industrie de la microélectronique. Un circuit intégré peut être expose à des agresseurs électriques potentiellement dangereux pendant toute sa dure de vie. Idéalement, les circuits devraient pouvoir encaisser ces excès d’énergie sans perdre leur fonctionnalité. En réalité, des défaillances peuvent être observées lors de tests de qualification ou chez le client. Il est donc dans l’intérêt des fabricants de réduire ces défaillances. Les agresseurs électriques sont de nature très variée comme
l’interférence électromagnétique, les décharges électrostatiques, les erreurs d’application… Dans l’actualité il existe des circuits de protection sur puce conçus pour dévier l’énergie de ces agresseurs des composants fragiles. Le terme anglophone Electrical Overstress EOS englobe tous les agresseurs électriques qui dépassent une limite de sûreté au-delà de laquelle les composants peuvent être détruits. La définition de ce terme est traitée en détail dans la thèse. L’objectif de
cette thèse est de comprendre le statut du sujet des EOS dans l’industrie. On propose ensuite une nouvelle méthodologie de caractérisation de circuits pour quantifier leur robustesse face à des formes d’onde représentatives résélectionnées. On propose également des solutions de circuits de protection sur puce que ce soit au niveau de nouveaux composants actifs ou au niveau de la conception des circuits électroniques de protection. Par exemple on propose un nouveau composant basé sur le thyristor qui a la capabilité de s’éteindre même si la tension d’alimentation est présente sur l’anode. Une autre proposition est de désactiver les circuits de protection face aux décharges électrostatiques lorsque les puces sont dans un environnement où l’on est sur ou ces agresseurs ne présentent plus de danger. Finalement, des perspectives sur la continuation de ces
solutions ou d’autres solutions sont citées.



Voir en ligne : Texte complet (intranet INSA de Lyon)