Ababacar DIOUF soutiendra sa thèse le 17/09/2026 à 14h.
Lieu : Amphithéâtre AE2, département Génie Electrique, INSA Lyon, 8 rue de la Physique, 69621 Villeurbanne
Jury :
Rapporteurs :
M. Andrea IRACE, Professeur des Universités, Università degli Studi di Napoli, Italie
Mme. Mounira BOUARROUDJ, Directeur de Recherche, Université Gustave Eiffel, Paris
Examinateur :
M. Stéphane LEFEBVRE, Professeur des Universités, Conservatoire National des Arts et Métiers, SATIE
Encadrement :
M. Cyril BUTTAY, Directeur de Recherche, Ampère INSA Lyon, directeur de thèse
M. Emmanuel MARCAULT, Ingénieur de Recherche HdR, CEA Grenoble, co-encadrant
M. Loris PACE, Maître de Conférences, Ampère École Centrale de Lyon, co-encadrante
Invités :
M. Maroun ALAM, Ingénieur de Recherche, IRT Saint Exupéry, Toulouse, comité d’encadrement
Mme. Valeria RUSTICHELLI, Ingénieur de Recherche, IRT Saint Exupéry, Toulouse, comité d’encadrement
M. Hervé MOREL, Ampère INSA Lyon, comité d’encadrement
Résumé :
Cette thèse vise à étudier la fiabilité et la robustesse des composants de puissance en GaN dans diverses conditions de commutation. Les travaux de recherche impliquent le développement et la mise en œuvre de différentes méthodes d’essai — telles que le test à double impulsion (DPT), le test à double source (DST) et le test de contrainte à impulsions multiples (MPS) — afin de soumettre les composants à des contraintes et d’analyser leur comportement. L’objectif est de comprendre les mécanismes de défaillance et d’améliorer la conception des dispositifs à base de GaN destinés aux applications d’électronique de puissance.
Mots-clés :
Fiabilité, GaN, Composants de puissance, commutation dure, commutation douce